+7 (495) 647-79-79

МЕНЮ

Поиск

каталог

ИППП-3, ИППП-3/1 Измерители параметров полупроводниковых приборов

ИППП-3, ИППП-3/1 Измерители параметров полупроводниковых приборов
Производитель
Гарантия
12 месяцев
(если иной срок не предусмотрен производителем)
от 2 022 520 руб.
до 2 224 890 руб.
В корзину
Купить в один клик
Заказать поверку/калибровку
Задать вопрос
  • Информация о товаре
  • Технические характеристики
  • Комплект поставки
  • Аналоги
  • Оплата и доставка

Описание: 

  • Измерение и анализ вольтамперных характеристик (ВАХ) в диапазонах токов до 20 А и напряжений до 2000 В
  • Динамическое отображение графика ВАХ при регулировке напряжения повторяющейся развертки вручную
  • Однократное измерение ВАХ по внутреннему или внешнему сигналу запуска развертки
  • Измеритель содержит каналы С (коллектор, сток), В (база, затвор), Е (эмиттер, исток), S (подложка) 
  • Виды сигналов развертки в канале С:
    • полуволна синусоидального разрешения (10 мс)
    • три периода синусоидального напряжения (60 мс)
    • импульсы возрастающей амплитуды (0,2 мс ÷ 2 мс)
    • постоянное напряжение
  • Базовая погрешность измерений в каналах С, В, S – 1,5%
  • Проведение измерений не требует знаний в области программирования
  • Измерение параметров полупроводниковых приборов (в том числе на пластине), анализ брака
  • Ограничение тока и напряжения на электродах объекта тестирования по заранее установленным порогам в каналах С, В, S
  • Отображение измеренных и расчетных характеристик в виде графиков и таблиц
  • Сохранение таблиц в электронном виде
  • Формирование отчета по результатам измерения, расчета и допускаемого контроля параметров с указанием признака годности
  • Наличие библиотеки стандартных тестов для измерения параметров стандартных полупроводниковых приборов
  • Возможность создания  библиотеки пользовательских тестов, путем задания параметров условий измерения
  • Возможность создания собственных моделей измерения по принципу: изделие, тестируемый элемент, тест
  • Создание собственного архива эталонных графиков с возможностью наложения эталонной ВАХ на измеренную характеристику
  • Измерения по маркерам, построение касательной
  • Инверсия полярности осей X и Y
  • Компенсация «петли», режим «экранной лупы»

 

Выбор марки
 
Рекомендуем посмотреть: 4200A-SCS — система измерения параметров полупроводников